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    題名: Discrimination of Pain Intensity Level and Side Effects of Postoperative Pain Using Parameters Extracted from the Evoked Pain Pattern.
    作者: 謝建興(Shieh, Jiann-shing);(Chen, Liang-yu);溫永銳(Yeong-Ray Wen);陳貞吟(Chen, Jen-yin);孫維仁(Sun, Wei-zen)*
    貢獻者: 中國附醫麻醉部
    關鍵詞: Evoked potentials;EPs;Evoked pain pattern;EPP;Patient-controlled analgesia;PCA;Evoked pain stimulation;Area;Latency;Amplitude;Visual analog scales;VAS;Side effects;SE
    日期: 2009-02
    上傳時間: 2011-09-07 09:31:20 (UTC+8)
    關聯: Biomedical Engineering - Applications, Basis and Communications 21(1):29-38
    顯示於類別:[台中附設醫院] 期刊論文

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