English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 29490/55136 (53%)
造訪人次 : 1572291      線上人數 : 164
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧：
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號"，以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋，建議至進階搜尋限定作者欄位，可獲得較完整資料
    •  進階搜尋
    主頁 ‧ 登入 ‧ 上傳 ‧ 說明 ‧ 關於CMUR ‧ 管理 到手機版


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.cmu.edu.tw/ir/handle/310903500/40275


    題名: Discrimination of Pain Intensity Level and Side Effects of Postoperative Pain Using Parameters Extracted from the Evoked Pain Pattern.
    作者: 謝建興(Shieh, Jiann-shing);(Chen, Liang-yu);溫永銳(Yeong-Ray Wen);陳貞吟(Chen, Jen-yin);孫維仁(Sun, Wei-zen)*
    貢獻者: 中國附醫麻醉部
    關鍵詞: Evoked potentials;EPs;Evoked pain pattern;EPP;Patient-controlled analgesia;PCA;Evoked pain stimulation;Area;Latency;Amplitude;Visual analog scales;VAS;Side effects;SE
    日期: 2009-02
    上傳時間: 2011-09-07 09:31:20 (UTC+8)
    關聯: Biomedical Engineering - Applications, Basis and Communications 21(1):29-38
    顯示於類別:[台中附設醫院] 期刊論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    20110718212433.pdf525KbAdobe PDF254檢視/開啟


    在CMUR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    TAIR相關文章

     

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋